半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種專門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試材料或組件在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷大幅度溫度波動(dòng)(如從低溫到高溫)的能力的設(shè)備。它能夠在數(shù)秒至數(shù)分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度的急劇變化,模擬自然界中可能遇到的惡劣條件,比如冬季戶外突然進(jìn)入溫暖室內(nèi)的情況。這種設(shè)備對(duì)于檢驗(yàn)產(chǎn)品的耐久性和可靠性尤為關(guān)鍵。一、工作原理1、雙區(qū)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常采用雙區(qū)設(shè)計(jì),即一個(gè)區(qū)域...